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MODUS-Vortrag von Christian Fiedler „Statistical learning theory for kernel methods with distributional inputs and two-stage sampling“
Mittwoch, der 14. Januar 2026 um 12:30 Uhr
Am Mittwoch, den 14. Januar 2026 um 12:30 Uhr spricht im Seminarraum S 102, FAN, Gebäudeteil „FAN-B“
Herr Dr. Christian Fiedler
Lehrstuhl für Angewandte Numerische Analysis (Prof. Fornasier)
Forschungsgruppe „Data Science“
Department of Mathematics
TUM School of Computation, Information and Technology (CIT)
Technische Universität München (TUM)
(Gast am Lehrstuhl für Angewandte Mathematik
bei Herrn Prof. Dr.Lars Grüne)
im Rahmen des
Forschungszentrums für Modellierung und Simulation (MODUS)
über das Thema
„Statistical learning theory for kernel methods with distributional inputs and two-stage sampling“.
Christian Fiedler ist am 12. - 16. Janur 2026 Gast des Lehrstuhls für einen Forschungsaufenthalt. In dieser Zeit ist er im Büro 3.2.01.530 erreichbar.
Seine wissenschaftlichen Arbeitsfelder liegen u.a. im Bereich nichtlineare modellprädiktive Regelung, Kernel-Methoden, robuste Identifizierung tiefer neuronaler Netze, interagierende Teilchen- und Mean-Field-Systeme und Regelung.
ABSTRACT:
In a range of machine learning applications, from medical diagnostics to causality, distributions appear as inputs,
and these distributions might not even be directly accessible, but only through samples thereof. Kernel-based methods are well-suited
for this problem setting by first embedding the distributions into a Hilbert space and then using a standard kernel on this Hilbert space.
This strategy has received particular attention for the case of regression with distributions as inputs, called distributional regression,
and by now efficient algorithms as well as substantial theory are available. However, for other variants of learning with distributional inputs
there has been much less work, most notably for the case of distributional classification. Motivated by this latter fact, we present
recent work on advancing statistical learning theory for kernel methods with distributional inputs, covering important settings
like binary classification with support vector machines.
Weitere Einzelheiten erfahren Sie auf
- der Webseite zum MODUS-Seminarprogramm.